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下条 晃司郎; 矢部 誠人*; 池田 茉莉*; 平山 直紀*; 幅田 揚一*
no journal, ,
InおよびGaはディスプレイや半導体などに使用される重要な元素である。しかし、InとGaはZn鉱床に微量に含まれる極めてレアな金属であり、Zn鉱床から微量のInとGaを選択的に分離回収する技術が望まれている。我々はこの問題を解決すべく新規抽出剤ニトリロ酢酸ジアミド型配位子(TONAADA)を開発し、模擬Zn鉱床(Zn, Al, In, Gaの混合水溶液)からIn, Gaの抽出分離を検討した。その結果、In Ga Zn Alの順に高い選択性を示し、1段の抽出でZn, AlからIn, Gaを分離回収できることを明らかにした。また、単結晶X線回折によって、錯体構造を解明した結果、InとTONAADAが1:2錯体を形成していることを解明した。
杉本 千紘; Myagmarjav, O.; 田中 伸幸; 野口 弘喜; 竹上 弘彰; 久保 真治
no journal, ,
熱化学水素製造法ISプロセスの水素生成にはヨウ化水素(HI)分解反応を用いる。HI分解反応の平衡転化率は20%であるため、転化率を向上させるためにセラミックス製の水素分離膜を導入したHI分解膜反応器が有効である。水素は分圧差を駆動力として水素分離膜を透過するため、膜反応器を実用化するためには圧力容器内の管板と管状の分離膜の間を封止し、高圧側から低圧側へのリーク流量を低く保つことが必要不可欠である。本研究は封止部の候補として膨張黒鉛グランドパッキンを取り上げ、リーク流量を実験的に評価した。ステンレス製の模擬管をパッキンで封止し、模擬ガスのヘリウムを封入し、ヘリウム検知器でシール部のリーク流量を測定した。膜反応器の起動停止を想定した熱サイクル試験及び分圧差依存性試験を行った。熱サイクル試験では450Cのリーク流量が210 Pa m sとバブルリーク試験の測定限界値(110 Pa m s)に相当する小さな値であり、パッキンが膜反応器の起動停止を含む運転条件においても封止部として機能していることが明らかにした。また、分圧差とリーク流量が比例していることから、異なる圧力条件におけるリーク流量の推定を可能とするデータを得ることができた。